導讀

從電子手表到電腦再到各類移動通信產(chǎn)品，我們不難發(fā)現(xiàn)電子電器產(chǎn)品已經(jīng)和我們的生活息息相關(guān)了。而我們消費者對產(chǎn)品質(zhì)量越來越高的要求，使得各個生產(chǎn)廠家不得不嚴格把控產(chǎn)品質(zhì)量，對產(chǎn)品或生產(chǎn)過程中出現(xiàn)的異物甚至異常顏色進行分析，進而確定來源，優(yōu)化產(chǎn)品質(zhì)量。異物分析也是失效分析的一種，通過分析和驗證，找出失效的原因，挖掘出失效的機理。微小異物的尋根探源，在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)和改進、產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強的實際意義。

對于異物或異色的分析，由于待分析的異物樣品較小，顯微紅外法的優(yōu)勢得以體現(xiàn)。紅外顯微鏡是用光學顯微鏡觀察微小樣品，再把紅外光路引入到顯微鏡中，調(diào)節(jié)可變光闌的大小，選擇測試樣品中的某一微區(qū)，紅外光聚焦后，進行紅外分析。島津紅外顯微鏡AIM-9000，可實現(xiàn)330倍連續(xù)放大，大范圍廣角相機快速尋找異物點，自動識別異物位置，同時能做到異物光譜自動分析、自動對焦，在測量的同時觀測測量位置，確保異物點測量位置零偏移。

樣品1：手機鏡頭上的白色異物。

將異物取出，放在金剛石池中壓制后，置于紅外顯微鏡下，透過法測試。

樣品2：PCB板焊錫位置異物。無需前處理，樣品直接放置在紅外顯微鏡下，反射法測試。

上圖中，黑色譜圖為焊錫不良處的紅外譜圖，紅色譜圖為IRON NAPHTHENATE（環(huán)烷酸鐵鹽）的標準紅外譜圖，兩圖在多處出峰位置一致，推斷樣品中含有環(huán)烷酸類物質(zhì)。

經(jīng)譜圖檢索顯示，異物分別為SKIN（皮屑）和IRON NAPHTHENATE（環(huán)烷酸鐵鹽）。皮屑，可能是人員操作過程中引入，而環(huán)烷酸類物質(zhì)，可能為鍍層過程中使用的清洗劑殘留。異物結(jié)果，快速指向問題環(huán)節(jié)。

 結(jié)語

在電子電氣行業(yè)，生產(chǎn)工藝流程復(fù)雜，使用的物料眾多，操作流水線上的微小疏漏，都會導致產(chǎn)品中出現(xiàn)不明異物。這不僅影響產(chǎn)品外觀、產(chǎn)品質(zhì)量，甚至會導致生產(chǎn)停滯，以至于給企業(yè)帶來不可估量的經(jīng)濟損失。島津的紅外顯微鏡AIM-9000配置的大視野相機，可以幫助我們搜羅異物的蛛絲馬跡，迅速定位目標；高靈敏度的MCT檢測器，幫助我們定性分析異物類型，快速指向來源。